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深圳市金東霖科技有限公司
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| x-ray膜厚測試儀 |
x-ray膜厚測試儀x射線膜厚儀是通過放射x射線穿透被測物體時的強度衰減量來測量物體厚度。x射線膜厚儀的優點是儀器在斷電后就不會在釋放任何射線，減少了對人體和周圍環境的危害，從而是一種安全的膜厚儀，因此，各大工程中特別是在有色金屬板材生產加工中被廣泛的應用。但是，由于x射線測厚儀的射線強度、以及被測物的材質、溫度、傾斜角度等都會影響到x射線膜厚儀測量的精確度，所以我們應該注意影響x射線膜厚儀測量精度的因素并注重對其進行日常的維護。
x-ray膜厚測試儀產品特點：
可檢測元素范圍：AL13 – U92.可同時測定5層/15種元素/共存元素校正.結合了大功率X射線管和高分辨率半導體探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。
電制冷固態探測器確保*佳的信/躁比，從而降低檢測下限。
探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。
有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。
您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。
一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。
大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。 |
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