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深圳市金東霖科技有限公司
聯(lián)系人:周小姐
女士 (銷售) |
電 話:0755-29371651 |
手 機(jī):13602562447 |
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膜厚分析儀 |
膜厚分析儀x射線膜厚儀是通過放射x射線穿透被測物體時的強(qiáng)度衰減量來測量物體厚度。x射線膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)是儀器在斷電后就不會在釋放任何射線,減少了對人體和周圍環(huán)境的危害,從而是一種安全的膜厚儀,因此,各大工程中特別是在有色金屬板材生產(chǎn)加工中被廣泛的應(yīng)用。但是,由于x射線測厚儀的射線強(qiáng)度、以及被測物的材質(zhì)、溫度、傾斜角度等都會影響到x射線膜厚儀測量的精確度,所以我們應(yīng)該注意影響x射線膜厚儀測量精度的因素并注重對其進(jìn)行日常的維護(hù)。
膜厚分析儀產(chǎn)品用途:電鍍層厚度及多鎳鍍層電位測量
應(yīng)用領(lǐng)域:PCB、LED、航天航海、電子電器、線路板、五金鎖具、塑膠電鍍、標(biāo)準(zhǔn)件、釹鐵硼、技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。
測量鍍種:裝飾鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳,復(fù)合鍍層(如Cr/Ni/Cu)約30幾種鍍層基體組合。如需測量其他鍍層可事先提出.
鍍層底材:金屬、非金屬、釹鐵硼等
鍍層層數(shù):單層及復(fù)合多層
測量范圍:13號~92號元素(保證精度情況下,更厚鍍層也可測量) |
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