|
深圳市金東霖科技有限公司
| 聯系人：周小姐
女士 (銷售) |
| 電 話：0755-29371651 |
| 手 機：13602562447 |
 |
|
 |
|
| 美國熒光鍍銅鎳金測厚儀 |
美國BOWMAN（博曼）熒光測厚儀是一種專門應用于半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。
測量更小、更快、更薄MicronX 比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統完成的。
BOWMAN（博曼）型熒光測厚儀是一種專門應用于半導體材料和電子器件領域的檢測設備。
檢測區域為50m~500um. 通過CCD 可放大圖像達300倍。
通過高精密度樣品臺可提供元素面分布圖。 可對多達6層的涂層或鍍層進行逐層厚度測量。
利用X射線熒光的非接觸式的無損測試技術完美地應用于微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜測量。
可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測量厚度可以從埃（?）至微米（um），它也能測量多至20個元素的塊狀合金成份。
測定元素：AL ～ U 。其光束和探測器的巧妙結合加上高級的數字處理技術能*佳地解決您的應用。
在準確度和重現性上具有獨一無二的性能。測量更小、更快、更薄
BOWMAN 比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。
這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統完成的。
讓客戶滿意，為客戶創造*大的價值是金霖始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖.如果您有什么問題或要求，請您隨時聯系我們。您的任何回復我們都會高度重視。金東霖祝您工作愉快！ |
|
|
免責聲明：以上所展示的信息由會員自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責，www.qy6.com對此不承擔任何責任。如有侵犯您的權益，請來信通知刪除。