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深圳市金東霖科技有限公司
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膜厚測量儀 |
膜厚測量儀x射線膜厚儀是通過放射x射線穿透被測物體時的強度衰減量來測量物體厚度。x射線膜厚儀的優點是儀器在斷電后就不會在釋放任何射線,減少了對人體和周圍環境的危害,從而是一種安全的膜厚儀,因此,各大工程中特別是在有色金屬板材生產加工中被廣泛的應用。但是,由于x射線測厚儀的射線強度、以及被測物的材質、溫度、傾斜角度等都會影響到x射線膜厚儀測量的精確度,所以我們應該注意影響x射線膜厚儀測量精度的因素并注重對其進行日常的維護。
膜厚測量儀優勢有:
1.高性能、高精度、長期穩定性、快速精確的分析帶來生產成本*優化,精確測定元素厚度,優化的性能可滿足廣泛的元素測量.
2.堅固耐用的設計:可靠近生產線或在實驗室操作,生產人員易于使用.
3.簡單的校準調試:在沒有標準片時,經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果,方法建立只需幾分鐘,我們提供認證標準片以確保*佳精確度(A2LA和ISO/IEC17025),預置了多種校準參數. |
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