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無(wú)錫阿爾法檢測(cè)技術(shù)有限公司
聯(lián)系人:徐
女士 (業(yè)務(wù)) |
電 話:0510-18061908878 |
手 機(jī):13812029610  |
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軍用裝備船舶、飛機(jī)、車輛、空間飛行器GJB150.23A爆炸分離沖擊檢測(cè) |
概述
分析有關(guān)技術(shù)文件的要求,應(yīng)用裝各(產(chǎn)品)訂購(gòu)過程中實(shí)施GJB4239得出的成果,確定裝各壽命期內(nèi)爆炸分離沖蘄環(huán)境出現(xiàn)的階段,根下列環(huán)境效應(yīng)確定是否需要進(jìn)行本試驗(yàn)。當(dāng)確定需要進(jìn)行本試驗(yàn)。且本試驗(yàn)與其他環(huán)境試驗(yàn)使用同一試件時(shí),還需確定本試獫與其他試的先后順序。
環(huán)境效應(yīng)
爆炸分離沖擊環(huán)境的主要特征見附錄A.通常,爆炸分離沖擊可能對(duì)所有電子裝備產(chǎn)生不利影響。
不利影響的程度一般隨著爆炸分離沖擊的量級(jí)和持續(xù)時(shí)間的增大而增大,并且隨著離爆炸分離沖擊源〈火工裝置)的距離增大而減小。當(dāng)爆炸分離沖擊產(chǎn)生的材料應(yīng)力波波長(zhǎng)與裝備中微電子器件固有頻率的波長(zhǎng)一致時(shí),會(huì)增強(qiáng)不利影•通常.結(jié)僅傳遞彈性波,不受爆炸分離沖擊的影響。下面給出了與爆炸分離沖擊有關(guān)問的部分實(shí)例:
微電子芯片結(jié)完整性破壞所導(dǎo)致的裝各故障。
繼電器抖動(dòng)所導(dǎo)致的裝備故障的
電路板故障、電路板損傷和電連接器故障所導(dǎo)致的裝備故障.有時(shí),爆炸分離沖擊可使電路板的多余物遷移,造成短路。
晶體、陶瓷、環(huán)氧樹脂或玻璃封裝中的裂紋和斷裂所導(dǎo)致的裝備故障。
程序
程序丨,使試件經(jīng)受是夠數(shù)量的滿足定試條件的沖擊或至少3次沖擊,取兩者中較大者。試驗(yàn)?zāi)康氖菣z驗(yàn)裝備在火工裝置近場(chǎng)的爆炸分離沖擊下結(jié)構(gòu)和功能的完整性。
程序Il
程序Il,使試件經(jīng)受足夠數(shù)的滿足規(guī)定試驗(yàn)條件的沖擊或至少3次沖擊,試驗(yàn)?zāi)康氖菣z驗(yàn)裝各在火工裝置近場(chǎng)的爆炸分離沖擊下綠和功能的完整性。
程序Ill
程序Ill,使試件經(jīng)受足夠數(shù)量的滿足規(guī)定試驗(yàn)條件的沖擊或至少3次沖擊。對(duì)于單一的試驗(yàn)狀態(tài)。沿著多于一個(gè)軸向的實(shí)洳響應(yīng)可能滿足試驗(yàn)要求。因此.最少重復(fù)3次試驗(yàn)沖擊將滿足三個(gè)正交軸的所有方向的要求。在另一極瑞情況下,若每次沖擊僅滿足一個(gè)軸的一個(gè)方向的試獫要求•則需要總共9次沖擊.試驗(yàn)?zāi)康氖菣z驗(yàn)裝備在火工裝遠(yuǎn)場(chǎng)的爆炸分離沖市下結(jié)構(gòu)和功能的完整性。
程序丨V
程序丨V,使試件經(jīng)受足夠數(shù)量的滿足規(guī)定試驗(yàn)條件的沖擊或至少3次沖擊,實(shí)測(cè)晌應(yīng)一般不會(huì)是全方向的。對(duì)于程序IV,單一的試驗(yàn)狀態(tài)可能沿著多于一個(gè)軸向同時(shí)滿足試獫要求,但出現(xiàn)的概率很小。因此,最少重復(fù)3次試驗(yàn)沖擊將滿足三個(gè)正交軸的所有方向的要求•在另一端情況下,若每次沖擊僅滿足一個(gè)軸的一個(gè)方向的試驗(yàn)要求,則需要總共9次沖擊•試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)裝備在火工裝置遠(yuǎn)場(chǎng)的爆炸分離沖擊下結(jié)梅和功能的完整性。
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聯(lián)系對(duì)象:徐小姐、王先生
聯(lián)系方式:13812029610/1801478219 |
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