表面異物分析是指對產(chǎn)品表面的微小異物或表面污染物、析出物進(jìn)行成分分析的技術(shù),例如對表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,借此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。
根據(jù)異物的實(shí)際情況選擇不同的測試方法:
1. FTIR如果異物是有機(jī)物,通常選用顯微紅外光譜儀進(jìn)行分析,獲得異物的官能團(tuán)信息,與標(biāo)準(zhǔn)譜庫進(jìn)行檢索,確定異物的主要成分;
2. SEM+EDS如果異物是金屬或者氧化物,并且沒有明確的官能團(tuán)信息,通常選用電子顯微鏡-X射線能譜分析儀(SEM+EDS)對異物或材料表面進(jìn)行元素成分分析。
3. XPS如果異物是金屬或者氧化物,并且沒有明確的官能團(tuán)信息,同時(shí)是在材料極表面(納米級別)時(shí),通常選用X射線光電子能譜儀(XPS)進(jìn)行元素成分分析。常見的異物分析案例有:PCB板上的助焊劑殘留、金屬件的表面氧化物、PVC線皮析出的物質(zhì)、螺母的表面油污、塑膠制品中夾雜的白色顆粒、顯示屏上的外來物、銅絲表面發(fā)黑、焊錫發(fā)黑等。 |