供應中科科儀場發射掃描電子顯微鏡--源禾實業
型號 EM8100
用途 生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析
新聞
產品
1. 分辨率: 0.9nm@30KV(SE); 3.0nm@1KV(SE) ; 2.5nm@30KV (BSE)
2. 放大倍率: 6 倍-1000000 倍
3. 電子槍:肖特基熱場發射電子槍
4. 加速電壓: 0~30kV
5. 透鏡系統: 多級高性能透鏡系統,低像差錐形物鏡
6. 物鏡光闌:三個可在真空外調節,無需拆卸鏡筒即可更換物鏡光闌
7. 真空系統: 1 個濺射離子泵+1 個吸氣劑離子復合泵,1 個渦輪分子泵,1 個機械泵;樣
品室真空優于 6E-4 Pa ,電子槍倉真空優于 2E-7 Pa;全自動真空控制,具有真空互鎖
功能。
8. 探測器配置:高真空二次電子探測器;四分割半導體背散射電子探測器; 紅外 CCD 攝像
頭; 光學導航
9. 大型樣品室;樣品室提供不少于 11 個擴展接口,可以外接 WDS、EDS、BSE、EBSD 等
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多種附件和探測器 |