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蘇州華碧微科檢測技術(shù)有限公司
| 聯(lián)系人：楊浩
先生 (市場策劃專員) |
| 電 話：0512-6260-7604 |
手 機(jī)：18951112068  |
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| 微電子技術(shù)服務(wù) |
微電子技術(shù)服務(wù)的優(yōu)勢 Competitive Advantages
專業(yè)的研究隊(duì)伍
嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度
豐富的理論知識
長期的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn) Professional Research Team
Rigorous Working Attitude
Abundant Theoretical Knowledge
Extended Practical Experience
產(chǎn)生的效益 Benefits
先進(jìn)集成電路工藝、版圖結(jié)構(gòu)分析及設(shè)計驗(yàn)證，增強(qiáng)集成電路設(shè)計的研發(fā)能力
集成電路生產(chǎn)、封裝和使用全過程質(zhì)量和可靠性評價，提高產(chǎn)品的成品率和可靠性
集成電路可用性分析，保證合適電路應(yīng)用于合適的環(huán)境
服務(wù)內(nèi)容 Services
集成電路測試、篩選 IC Test / screening
集成電路功能測試、參數(shù)測試
集成電路微缺陷分析
集成電路質(zhì)量一致性檢驗(yàn)
集成電路老化、篩選試驗(yàn)
集成電路壽命試驗(yàn)
集成電路設(shè)計驗(yàn)證 Functional Test, Parameter Test
Micro-defect Analysis
Quality Conformance Procedure
Burn-in and Screening Test
Life Test
Design Verification
集成電路可靠性評估Reliability Evaluation for IC
塑封電路質(zhì)量評價
封裝缺陷無損檢測及分析
ESD等級、Latch-up測試評價
IC工藝可靠性測試結(jié)構(gòu)設(shè)計
IC拍照與電路圖翻譯技術(shù)服務(wù) Quality Evaluation for Plastic Encapsulated Micro-circuit
Non-destructive Test and Analysis for Package Defect
ESD, Latch-up Test
IC Process Control Monitor Design
IC layout reverse desig |
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