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| 日本分光電離能測試系統（功函數HOMO值測試） |
日本分光 BIP KV201 電離能量測量系統（超紫/真空紫外線型）
概述：
這是一個非常關鍵并且對于測試電離能量和有機半導體很重要的材料，如有機電子發光和有機薄膜太陽能電池。一般來說，例如UPS和XPS，只有在高真空條件下對樣品的光電子能譜測量的同時，進行電離能量/工作函數測量。然而，有機器件受大氣影響導致在各種在大氣氣體下的測量有一定的要求。采用光電子能譜，我們的Model BIP-KV201電離能量的測量系統能夠在氮保護氣體，真空氣體和大氣下檢測一些樣品。使用氮清除類型manochromator和光學系統，Model BIP-KV201直射到樣品上的真空紫外線能夠達到9.54伏。
優勢特點：
●測量電離能量（工作函數）從 9.54 ~ 4.0伏
●樣品在氮氣、真空和大氣下進行測量
●評估有機發光電子和有機薄膜太陽能電池的理想設備
●運用Pico-Ammeter使得系統達到較高的靈敏度
規格參數：
型號名稱： BIP-KV201電離能量測量系統（超紫/真空紫外線型）
光源： 氘燈30W
測量波長范圍： 在大氣下 : 6.53 ~ 4.0eV ( 190 ~ 310nm) 在真空條件下 : 9.54 ~ 4.0eV ( 130 ~ 310nm)
測量區間： 最小步距 0.01eV
照射面積： 2 x 2mm (通過狹縫和垂直孔徑)
測量方法： 產量光電子能譜分析(PYS)
樣品室： 大氣、氮、真空
軟件： 光譜輻射測量控制，光電子，電離能的測定（功函數），在二進制和重現數據存儲數據，文本文件中的數據存儲
●產量光電子能譜分析
單色光照射在樣品上。當前大量的光電子從中釋放出來得以檢測，并且在激發單色光中的大量光量子得以檢測。然后在不斷變化的入口電離能量被檢測到。
●測量項目
①背景測量 利用光電倍增器通過測量光輻照樣品，計算大量的光子
②樣品測量 每個波長的單色光照射到樣品上，然而對樣品施加的電壓很容易獲取釋放出來的電子。并且計算當前釋放出來的大量電子。
③電離能量數據處理 Y ∝ (hν-I)n Y=釋放大量電子 / 大量光子照射 h 普朗克常數 Ν 頻率 I 入口 N 關于參數N取決于在高水平邊緣中的電子密度下樣品的被占領狀態，可以選擇2或3.標準設備配備 氘燈和其電力供應真空紫外monochoromator輻照光學系統樣品室樣品架和其他 |
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