X射線熒光鍍層膜厚測試儀EDX2000A是江蘇天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，專門研發的一款上照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測,幫助企業準確核算成本及質量管控。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
X射線熒光鍍層膜厚測試儀EDX2000A對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析，通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統。
X熒光鍍層膜厚儀超高硬件配置
采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能精準地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發的穩定性,減少儀器故障率。
高精度自動化的X、Y、Z軸的三維聯動,更精準快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的定位。
EDX2000A膜厚測試儀設計亮點
上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統光路，信號采集效率提升2倍以上。可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統，滿足微小產品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。可編程自動位移平臺，微小密集型可多點測試，大大提高測樣效率。自帶數據校對系統。
軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監控，讓您的使用更加放心。 |
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