離子遷移CAF絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)
評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)，可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。
離子遷移CAF絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)
特點(diǎn)
·高機(jī)能：采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè)， 測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少
·軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了，直觀易操作
·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程。
·便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換。可同時(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。
·測(cè)試自檢功能：點(diǎn)檢、校正方便。
·設(shè)計(jì)精巧，不受場(chǎng)所限制，易移動(dòng)。
·可靠性高：配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。
離子遷移CAF絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)
應(yīng)用：PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器 等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測(cè)試評(píng)估。
離子遷移CAF絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)
技術(shù)規(guī)格
類型 500V *1 1000V
通道數(shù) 32通道/64通（可選）
工作時(shí)間 1~9999小時(shí)
偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC
記性反轉(zhuǎn) 具備
共負(fù)極測(cè)試（可選） 具備
CAF測(cè)試（可選） 具備
測(cè)試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-500VDC (0.1V 步進(jìn)) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-1000VDC (0.1V 步進(jìn) |
免責(zé)聲明：以上所展示的信息由會(huì)員自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)，www.qy6.com對(duì)此不承擔(dān)任何責(zé)任。如有侵犯您的權(quán)益，請(qǐng)來(lái)信通知?jiǎng)h除。