HAST CHAMBER高加速應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)HAST-400
高加速應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)HAST-400，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。
HAST CHAMBER高加速應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)HAST-400
HAST CHAMBER 又稱(chēng)為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題的試驗(yàn)設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過(guò)程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線(xiàn)路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴(lài)性試驗(yàn)等行業(yè)。
HAST CHAMBER高加速應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)HAST-400
高壓加速老化試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計(jì)，美觀(guān)大方、做工精細(xì)，對(duì)應(yīng) IEC60068-2-66 條件，具有直接測(cè)量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫度的急變，試驗(yàn)結(jié)果的正確。
HAST CHAMBER高加速應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)HAST-400
HAST高加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等），加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。 |
免責(zé)聲明：以上所展示的信息由會(huì)員自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)，www.qy6.com對(duì)此不承擔(dān)任何責(zé)任。如有侵犯您的權(quán)益，請(qǐng)來(lái)信通知?jiǎng)h除。