x-720 精密鍍層分析儀專用X射線熒光光譜儀是華唯公司經(jīng)過3年研發(fā)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、
達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型，三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；華唯獨創(chuàng)的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，
可盲測（即：無需標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定），即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析，降低客戶購買標(biāo)準(zhǔn)樣品（尤其是特殊樣品）成本。
精心設(shè)計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
聯(lián)系人;13751019504胡小姐
產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專用3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：330×360×100mm |
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