電鏡能譜分析
掃描電子顯微鏡，又名SEM，掃描電鏡，是一種在真空下用電子束掃描樣品表面，逐點激發二次電子信號，根據信號強度組成形貌照片，做高倍率的表面外觀形貌觀察的儀器，檢測流程包括制樣、上機觀察拍照，*后提供外觀形貌照片等數據。
在半導體器件的失效分析中，可用二次電子像來觀察芯片表面金屬引線的短路、開路、電遷移、氧化層的針孔和受腐蝕的情況，還可用來觀察硅片的層錯、位錯和拋光情況及作為圖形線條的尺寸測量等。
EDS能譜儀，又名顯微電子探針，是一種分析物質元素的儀器，常與掃描電鏡或者透射電鏡聯用，在真空室下用電子束轟擊樣品表面，激發物質發射出特征x射線，根據特征x射線的波長，定性與半定量分析元素周期表中Be以上的物質元素，檢測流程包括電鏡樣品制備，上機操作分析，*后提供成份分析譜圖與半定量成份組成比等數據。
能譜儀除了分析速度快，可做定量計算外，還可以選擇不同的方式進行分析，即可選點、線及區域進行分析，還可做不同元素的面分布圖（mapping）。
主要用途：
1、外觀形貌觀察，放大1000倍到30萬倍率，尺寸測量等；
2、選定微小位置區域，探測元素成份與含量；3、是失效分析當中對于微小痕量金屬物質檢測的*重要的檢測手段。即可選點、線及區域進行分析，還可做不同元素的面分布圖。 |
|
手機站
您當前位置是：商業機會 >> 橡膠塑料 >> 塑料異型材 >> 廣州中科檢測技術服務有限公司提供電鏡能譜分析、金相分析、材料分析服務
聯系信息
