iEDX-150WT 鍍層厚度分析系列
鍍層厚度分析系列
iEDX-150WT
采用非真空樣品腔；
專業用于PCB鍍層厚度，金屬電鍍鍍層分析；
可同時分析鍍層中的合金成分比列
應用領域:
PCB鍍層分析、金屬電鍍、鍍層領域
技術指標：
>多鍍層，1～4層
>測試精度：0.01 um
>多次測量重復性誤差<0.1％
>元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)
>測量時間：10-60秒
>Si-PIN探測器，能量分辨率為149電子伏特
>微焦X射線管50KV/1mA，鎢靶，焦斑尺寸 75um, 壽命大于3萬小時
>7個準直器及6個濾光片自動切換
>XYZ三維移動平臺，*大荷載為5公斤
>高清CCD攝像頭，精確監控位置
>多變量非線性去卷積曲線擬合
>高性能FP/MLSQ分析
> 平臺尺寸 700x580x25 mm
>平臺移動范圍 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
圖譜界面：
>軟件支持無標樣分析
>超大分析平臺
>可自動連續多點分析
>集成了鍍層界面和合金成分分析界面
>采用先進的多種光譜擬合分析處理技術
分析報告結果
>直接打印分析報告
>報告可轉換為PDF，EXCEL和HTML格式 |
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