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供應SEM檢測_掃描電鏡分析

供應SEM檢測_掃描電鏡分析_上海劑拓材料科技有限公司_供應SEM檢測_掃描電鏡分析

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公　司：上海劑拓材料科技有限公司

發(fā)布時間：2015年09月06日

有效期：2016年03月07日

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詳細說明

SEM EDS掃描電鏡
是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射.
2. SEM EDS掃描電鏡能譜應用
材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。
3.適用標準
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
4.送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
聯(lián)系人：周工18321012245；張工18321432694
QQ：2312070180

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