對顆粒粒度、粒度分布的測量,特別是隨著顆粒粒徑的減小,特殊的電、磁、光、聲等方面的特性使得對于納米顆粒的測量具有特別重要的意義。
納米粒度儀廣泛采用光子相關光譜法,也稱動態光散射技術,其測量原理是建立在顆粒的隨機熱運動或布朗運動基礎上。
納米粒度儀的基本知識,發展現狀;介紹了利用光子相關光譜法測量納米尺度粒子的粒度分布的基本原理和基本實驗設施;重點討論了納米粒度儀數據處理及粒徑反求的相關理論。納米粒度儀數據處理的相關理論和粒徑反求方法的部分又分為三個小部分:
1.單分散體系的數據處理方法。這部分的數據處理比較簡單,本文簡單討論了利用多項式擬合的方法,給出了存在噪聲情況下的計算效果。
2.多分散體系的參數搜索法。可以大大簡化數據處理過程,縮短數據處理時間。細致討論了這種方法的誤差產生及解決方法。
3.任意納米粒徑分布的反求算法。從基本物理原理,基本數學思想到程序的流程等等都進行了詳細的介紹。與參數搜索法不同,所介紹的方法對被測微粒系統的尺寸分布不做任何假定。
通過模擬計算和誤差分析,我們發現該方法可以得到比較高效、準確、穩定的計算結果。*后對粒度儀中數據采集部分的電路設計進行了簡單介紹,提出了一種數據采集的設計方案,并給出了相關的程序設計思想。 |
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