德國FISCHER菲希爾X射線熒光光譜儀 華東總代理—供應商、廠家、特點、詳細說明:
材料分析-FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY
X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應用于鍍層厚度測量,同時也適于進行元素分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀,它可以對未知材料進行簡單,快速而精確的分析。分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),即使含量很小也可以測量。
這些獨特的儀器之所以具有如此強大的性能,是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應用工具箱Gold Assay組合在一起,這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領域快速、無損和精確測量金含量的理想設備。
1、XAN® 120X射線光譜儀
貴金屬及珠寶首飾材料分析的理想工具
新款FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 120是一臺款現代化桌上X射線光譜儀(EDXRF)。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金,鉑和銀,銠,硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
XAN® 120測量準確,使用安全簡便,堅固耐用節省維護費用。而且,它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘,所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定。
無論您想測量未知樣品還是測定未知材料,XAN® 120 配合優異的菲希爾 WinFTM® 運行軟件都是您正確的選擇。
采用新改進的基本參數法,無論是無標準片測量還是有標準片測量,都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置,X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN® 120 的底部,從而可以采用射線向上的測量技術。
集成了含十字線、射線位置指示標志、光亮及位置調節的視頻顯微系統,將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現在您不再需要調節測量臺或是樣品臺——只需放下樣品即可開始測量。
長期的穩定性和出色的精確度——對于金優于1‰——是 XAN® 120的優勢所在。而且,由于不需要經常進行再校準,從而節省了使用者的時間、精力及經營成本。測量結果可以以Karat、 ‰ 或重量 %顯示,并且可以按客戶報表打印輸出。
優秀的人體學設計,簡單的操作即測量結果的快速計算是對XAN® 120*好的描述。使用安全而簡單——無論是對經驗豐富還是接受較少培訓的員工都是如此。不需要為XAN® 120特別設置一個實驗室房間。如果您需要一臺出色、準確可靠的測量儀器,XAN® 120 是您正確的選擇。 為個人計算機而設計的WinFTM® 測試軟件
先進的Fischer WinFTM® 軟件有著無與倫比的性能:完整、簡單易用而且不需要補充模塊或是軟件升級。軟件包括 :
X射線部件的操作
控制整個測量過程
先進的基本參數法可進行無標準片測量
用受認證的標準片進行校準,可以完成有標準片調校的測量
可以同時分析材料成分和測量計算鍍層厚度
按照元素波峰進行自動元素識別
測量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
客戶自定義報表工具 |
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