FISCHER菲希爾涂鍍層測厚儀 華東總代理 技術規格 測量項目 用途 詳細說明：
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1、FISCHERSCOPE® X射線測試儀有全系列的X-射線供應。
所有的設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等國家和國際標準。 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了*新的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其獨特的特點。
獨一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。X射線測試儀
XUL(M)® XDL® XDLM®-C4 XDVM®-µ X-RAY 4000 X-RAY 5000
測量方向
從下往上 從上往下 從上往下 從上往下 any any
X-射線管型號
W: 鎢管 MW: 微聚焦鎢管
W埥 MW
W
MW
MW
W 埥 MW
W 埥 MW
Detector
Proportional counter (PC)
Solid state detector (SD)
PC PC PC SD PC or SD PC or SD
開槽的測量箱體
接收器(Co)
可選擇的 WM-版本
數準器數目
W-類型: 1
WM-類型: 4 1 4 1 2 1 |
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