主要優勢
通過單次掃描實現*高精度： 無需通過多次掃描計算平均值
高測量速度
10 秒之內即可完成 C/L 頻帶中的完整測量(無需等待多個平均值)
穩定性不受光纖移動/振動和漂移的影響
描述
安捷倫制定了使用 N7788B 元器件分析儀進行元器件測量的限制， 其專有技術可與著名的瓊斯矩陣本征法(JME)相媲美，瓊斯矩陣本征法是測量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群時延(DGD)的標準方法。
安捷倫新的單次掃描技術具有一系列優點，可用于測試全套參數：
DGD/ PMD
PDL
功率/損耗
TE/TM 損耗
二階 PMD
主偏振態(PSP)
瓊斯和米勒矩陣
用于生產車間的設計
高吞吐量： 在 10 秒鐘內對 C 和 L 頻帶進行全面分析！
軟件驅動程序： 為系統的外部控制提供一系列軟件驅動程序。 這有助于通用 ERP 系統中的輕松集成。
遠程控制： 支持通過 LAN 或互聯網對儀器進行控制， 實現自動操作和故障診斷。
報告生成： 支持生成 PDF 格式的報告。 用戶可以配置所有的內容(包括版圖)。
實時功率讀數： 提供實時功率讀數(支持新器件的光纖耦合)，可以對非連接的器件進行高吞吐量測量。
條形碼掃描儀： 支持使用條形碼掃描儀快速傳輸被測器件的序列號。 |
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