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光學測量儀按20世紀60年代《光學量度》的說法，光學元件表面質量是用“表 潔度來表示的，而表面光潔度是由兩項技術指標來體現的：一是由劃痕、麻瑕疵的大小和數量劃分11個等級(p I-o,P l-iO,P工一20,P I-30,P工一40．PⅢ，PⅣ，PV，PⅥ，PⅦ)；二是由表面的微觀幾何形狀表征，并用表面粗糙房 誤差或用表面粗糙度的平均高度(V 1-14)來評價。或許至今，在某些人中{T這一早期傳統的說法。
光學三坐標測量按照現代規范的提法是：表面質量性能雖然也是用“表面缺陷”表征以 些內容，但它完全與傳統的分級和表示方式不同，而且并沒有與“光潔度”聯：法。同樣地，表面的微觀幾何形狀用“表面粗糙度”表示，與傳統 14是一但也不把表面粗糙度與光潔度混為一談。何況，以往表面粗糙度V 14已是‘表面了，可是，更優秀的表面如何表示卻沒有辦法——這是很大的憾事。
總之，籠統地講。光潔度”，雖然人們都懂得其含義，但或許也有人單純 面缺陷，這不符合現代規范的說法。正確的說法是：分別指明是“表面缺陷“表面粗糙度”。
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