TP200系統組件包括:• TP200或TP200B測頭體(TP200B為變體,振動公差更大)• TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力:SF(標準測力)或LF(低測力)• PI 200測頭接口• SCR200測針交換架
還有一種EO模塊(長超程),超程力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸提供保護。
其特點及優點如下:• 應變片技術具有無可比擬的重復性和精確的3D輪廓測量。• 零復位誤差。• 無各向同性影響。• 6向測量能力• 測針測量距離達100 mm(GF測針)• 快速測頭模塊交換,無需重新標定測尖• 壽命 >1000萬次觸發 TP200 TP200B
主要應用 需要高精度的DCC CMM。 和TP200相同,但是會發生「空氣」觸發的場合。
觸發方向 6軸:±X、±Y、±Z 6軸:±X、±Y、±Z
單向重複性(2s µm) 觸發水平1:0.40 µm(0.000016英吋)
觸發水平2:0.50 µm(0.00002英吋) 觸發水平1:0.40 µm(0.000016英吋)
觸發水平2:0.50 µm(0.00002英吋)
XY(2D)形式量測偏差 觸發水平1:±0.80 µm(0.000032英吋)觸發水平2:±0.90 µm(0.000036英吋) 觸發水平1:±1 µm(0.00004英吋)觸發水平2:±1.2 µm(0.000047英吋)
XYZ(3D)形式量測偏差 觸發水平1:±1 µm(0.00004英吋)觸發水平2:±1.40 µm(0.000056英吋) 觸發水平1:±2.50 µm(0.0001英吋)觸發水平2:±4 µm(0.00016英吋)
探針更換重複性 帶SCR200:*大±0.50 µm(0.00002英吋)手動:*大±1 µm(0.00004英吋) 帶SCR200:*大±0.50 µm(0.00002英吋)手動:*大±1 µm(0.00004英吋)
觸發力(探針端部處) XY平面(所有模組):0.02 NZ軸(所有模組):0.07 N XY平面(所有模組):0.02 NZ軸(所有模組):0.07 N
超行程觸發力(0.50 mm位移時) XY平面(SF/EO模組):0.2 N到0.4 NXY平面(LF模組):0.1 N到0.15 NZ軸(SF/EO模組):4.90 NZ軸(LF模組):1.60 N XY平面(SF/EO模組):0.2 N到0.4 NXY平面(LF模組):0.1 N到0.15 NZ軸(SF/EO模組):4.90 NZ軸(LF模組):1.60 N
重量(測頭感測器和模組) 22 g(0.78盎司) 22 g(0.78盎司)
*大延長桿(如果在PH10系列測頭座上) 300mm(11.81英吋) 300mm(11.81英吋)
*大建議探針長度(M2探針系列) SF/EO模組:50 mm(1.97英吋)鋼到100 mm(3.94英吋)GF
LF模組:20 mm(0.79英吋)鋼到50 mm(1.97英吋)GF SF/EO模組:50 mm(1.97英吋)鋼到100 mm(3.94英吋)GF
LF模組:20 mm(0.79英吋)鋼到50 mm(1.97英吋)GF
安裝方式 M8螺紋 M8螺紋
適合的介面 PI200、UCC PI200、UCC
探針模組更換架 自動:SCR200手動:MSR1 自動:SCR200手動:MSR1
探針系列 M2 M2 |
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