Belec公司*新開發(fā)的采用氬氣火花槍 “Argon special probe”可以分析P和S。與C元素不同，這兩個(gè)元素發(fā)射更短的波長，而不能用光纖光束傳送，在探頭中安裝一個(gè)小的光譜室就解決了這個(gè)問題。這種探頭重量不大，可以手持，使用仍然方便。
用氬氣流探頭 “Argon flushed probe”可進(jìn)行高精度分析，除其它元素外，還可以分析C，使用專用的光學(xué)方法可以分析低于0.1%含量的C，其分析精度達(dá)到了專用定碳儀的分析精度，這就大大縮短了試樣制備程序。
空氣探頭 “Air probe”是“混料分選”的常規(guī)應(yīng)用，一次分析時(shí)間小于3秒。在一次分析后顯示出近似的分析結(jié)果和材料牌號(hào)。
發(fā)現(xiàn)混料，發(fā)出聲/光報(bào)警信號(hào)，可由操作者確認(rèn)。
建議把試樣放在光譜儀的特別測(cè)量臺(tái) “SPECIAL MEASURING STAND”上，不需要手持探頭及適配器便可進(jìn)行快速而可靠的分析，并可分析小至4mm測(cè)量直徑的小試樣及可采用不同種類的適配器，分析細(xì)小及不同外形的試樣。
Belec Win 21操作軟件－中文版操作
完全由Belec公司按照多年光譜儀生產(chǎn)及操作的經(jīng)驗(yàn)而開發(fā)，并隨著時(shí)代的變化而不斷改良，可達(dá)到以下功能﹕
顯示每次測(cè)量值、每個(gè)分析程序獨(dú)立分析參數(shù)、自動(dòng)選擇程序、帶標(biāo)準(zhǔn)型自動(dòng)分析校正、易于同時(shí)再標(biāo)定多個(gè)程序、以參考測(cè)量數(shù)據(jù)來比較混合校核、每個(gè)分析程序和元素在相對(duì)和絕對(duì)含量的容差﹐可單獨(dú)調(diào)整、鄰近測(cè)量結(jié)果平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差、自動(dòng)顯示牌號(hào)或材料數(shù)量、合金材料庫可存儲(chǔ)100,000及更多牌號(hào)（取決于計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)量）、與分析標(biāo)準(zhǔn)牌號(hào)比較校核、當(dāng)超出校驗(yàn)曲線時(shí)報(bào)警信號(hào)、類型校驗(yàn)和類型測(cè)量、用于日后評(píng)價(jià)、打印和文檔的報(bào)告存儲(chǔ)功能等… |
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