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X射線電鍍層測厚儀,茂名X射線測厚儀,肇慶X射線鍍層測厚儀

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公　司：深圳市鑫捷偉科技有限公司

發布時間：2017年02月06日

有效期：2017年08月08日

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林銘女士 (銷售)

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電　　話： 0755-86641002 傳　　真： 0755-86641001 手　　機： 13699873275 地　　址：中國廣東深圳市南山區西麗文光麗景大廈1202 郵　　編： 518000
公司主頁：	http://senjex01.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細說明

    Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。

其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的首選機型。

可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)  原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析統計功能
本公司還供應上述產品的同類產品：美國膜厚儀,膜厚測量儀,鍍層厚度測量儀

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