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X射線膜厚儀,韓國先鋒鍍層測厚儀,韓國X光機,韓國X光金屬鍍層測厚

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公　司：深圳市鑫捷偉科技有限公司

發布時間：2017年02月06日

有效期：2017年08月08日

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林銘女士 (銷售)

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電　　話： 0755-86641002 傳　　真： 0755-86641001 手　　機： 13699873275 地　　址：中國廣東深圳市南山區西麗文光麗景大廈1202 郵　　編： 518000
公司主頁：	http://senjex01.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細說明

Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的首選機型。

可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,操作非常方便簡單
可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92

本公司還供應上述產品的同類產品：韓國MicroPioneer測厚儀,韓國膜厚儀代理商,韓國測厚儀

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