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供應X熒光光譜儀—ROHS檢測分析儀器—納優NDA300

供應X熒光光譜儀—ROHS檢測分析儀器—納優NDA300_江西納優科技有限公司_供應X熒光光譜儀—ROHS檢測分析儀器—納優NDA300

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公　司：江西納優科技有限公司

發布時間：2013年01月18日

有效期：2013年01月28日

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萬華先生 (銷售經理)

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電　　話： 0755-33113292 傳　　真：手　　機： 18682362396 地　　址：中國廣東深圳市龍崗區布吉街布瀾路深港中海信科技園郵　　編：
公司主頁：	http://nayou2012.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細說明

    型號：NDA300
　　　新品(免拆分)
　　　應用領域
　　　►RoHS指令篩選檢測
　　　►無鹵指令篩選檢測
　　　►玩具指令篩選檢測
　　　►日用消費品中限制元素篩選檢測
　　　►合金成分分析
　　　► 土壤、污水重金屬檢測
　　　技術特點
　　　►配置*新專利技術“樣品免拆分”檢測模式：采用*新專利技術的光路結構，*小照射光斑直徑可達到0.5mm，輔以精確的光斑定位系統，從而可以實現對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求
　　　►配置符合中國國家標準的樣品混測功能：方形4mmⅩ4mm光斑設計，配合0.5mm光斑配合使用，能夠對電路板等復雜樣品實現“免拆分”區域掃描測量功能；從而顯著節省測量時間，大幅度提高檢測效率
　　　►配置On-Line實時在線技術支持系統（選配）：實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題，同時對用戶操作人員進行培訓
　　　►配置十六組復合濾光片：NDA300型配置了16組復合型濾光片，是業界配置*全、數目*多的配置之一；16組濾光片的配置，極大的保證了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性
　　　►內置標準工作曲線：儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產品認證要求的基礎材料的工作曲線，方便用戶直接使用；并與國家指定的認證檢測實驗室保持一致
　　　►具備開放的工作曲線技術平臺：基于開放的工作曲線技術平臺，電子生產企業可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線，確保XRF分析儀檢測結果的可靠性和準確性
　　　►分析軟件操作系統分級管理：儀器系統軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡單直觀，避免儀器重要參數的誤修改；工程師菜單功能強大，儀器的各種參數設置權限全部開放給用戶
　　　►采用經典的迷宮式輻射防護結構：采用了經典的迷宮式輻射防護結構，在保持儀器外形美觀操作方便的同時，徹底杜絕低能散射X射線的泄露
　　　►配置專利技術“影響權系數法”多層鍍層測厚功能：納優科技獨創的“影響權系數法”多層鍍層測厚技術，顯著提高鍍層厚度測量的準確度；*大可測量鍍層數量為9層；徹底解決了常規XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題
　　　►外觀設計實用美觀：符合人體工程學的儀器外形設計，操作人員測量過程方便舒適
　　　分析方法及系統軟件
　　　分析方法配置：
　　　► 基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
　　　► 經驗系數法
　　　► 理論α系數法
　　　軟件功能描述：
　　　► RoHS指令、無鹵指令等環保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
　　　► 各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）
　　　► 聚合物等有機材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
　　　► 分析報告的自主定制與輸出打印
　　　► 分析結果的保存、查詢及統計
　　　► On-Line實時在線技術支持與技術服務功能
　　　► 多層鍍層厚度測量功能
　　　產品參數
　　　►名稱：X熒光光譜儀
　　　►型號：NDA300
　　　►輸入電壓：220±5V/50Hz
　　　►消耗功率：≤500W
　　　►環境溫度：15-30℃
　　　►環境濕度：≤80%（不結露）
　　　►主機外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440
　　　►樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120
　　　►主機重量：約60公斤
　　　主要配置
　　　►SDD硅漂移電制冷半導體探測器
　　　►側窗鉬（Mo）靶管
　　　►標配16組復合濾光片
　　　►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
　　　►具備符合中國國家標準的樣品混側功能
　　　►內置標準工作曲線
　　　►配置On-line實時在線技術支持與服務平臺
　　　►具備開放工作曲線技術平臺
　　　►分析軟件操作系統分級管理
　　　技術指標
　　　►元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
　　　►測量時間：
　　　對聚合物材料，典型測量時間為30秒
　　　對銅基體材料，典型測量時間為30秒
　　　►檢出限指標（LOD）：
　　　對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
　　　對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
　　　►精密度指標，以連續測量7次的標準偏差σ表征：
對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；                       LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg
　　　對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
　　　►準確度指標，以系統偏差δ進行表征
　　　對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg;                                 δ（TCr）≤100mg   /Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg
　　　對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg

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