超薄平板探測器以非晶硅為基底，包括光電二極管、薄膜晶體管開關、掃描線、數據線等，然后在上面再敷上一層閃爍體。閃爍體在受到X射線照射后發出峰值波長550nm的可見光，對應光電二極管吸收的*佳波長。光電二極管將接收到的可見光轉化成電荷，電荷在薄膜晶體管開關的控制下由數據線收集到電荷放大器，然后經模數轉換器轉化為數字信號，*后數字信號被傳送到計算機，顯示為圖像。影像邊緣銳利清晰，細微結構表現出色．CR則將信息首先記錄在涂有氟化鋇的IP板上．再通過掃描裝置實現數字化轉換，其曝光條件仍由所匹配的X線成像設備所限制．因而圖像與DR相比略遜。CR的圖像對比度和噪聲的表現也不錯．這可能與其攝影時使用較高的mAs有關。圖像質量的提高提升了診斷醫師的滿意度，大大減少了疾病的漏診和誤診.同時用在工業無損檢測成像上效果圖更加清晰
平板尺寸 35X43cm
像素尺寸 700萬
空間分辨率 3 .48lp/mm
像素大小 144µm
DQE 66%@0lp/mm
MTF@ 1lp/mm 60%
灰階 16bits
圖像完全顯示時間 10秒(預覽時間3秒)
電池持續時間 2小時 90張/小時
充電電壓 24V
平板重量 4.8KG
通訊接口 以太網
飽和度 75 µGy
照射劑量 0.2 to 3.0 µGy
*大輻射劑量 50 µG |
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