225KV微焦點工業CT XTH 225 XT H 系統可采用225kV電源，可選用旋轉目標，適合于各種應用，包括小鑄件檢測、塑料件及材料研究。可靈活地整合在單個系統中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析，快速數據采集和高質量圖像，可利用交互式操縱桿導航功能進行快速操作，高分辨率數字成像和處理，嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統，無需任何特殊的預防措施或安全警示標志，可與行業標準后處理應用緊密集成
25-225kV 微焦點源，焦斑大小為3μm
低成本維護開管技術
五軸完全可編程操縱器
精選高分辨率數字探測器
雙顯示，用于組合測量和實時分析
直觀的操縱桿導航可指導生成實時X射線圖像
測量體積 25X60cm
安全裝置，可作為設計標準
結構緊湊設計，輕質設施安裝
符合人體工學的樣品裝載
應用：評估和測量精密塑料件和小鑄件、復雜機構、內部零件、部件與CAD比較等，故障檢測和失效分析，裝配問題的故障診斷排除，先進材料研究和生物結構的分析，模型的數字化歸檔。
主要特征概述
X射線源 可使用25kV至*大225 kV電壓，XT H 225系統可用于一般用途，例如塑料、PCB、輕合金、小組件和有機樣本或生物樣本，也可用于特殊用途，例如重型鑄件、焊接件和高密度合金。
目標 微焦斑可產生非常高的分辨率，并建議將其作為標準目標。棒陽極是中空樣品單層壁檢測的理想選擇，例如管焊接。
旋轉目標源 帶有旋轉目標的X射線源可將X射線通量提高5倍，使客戶能獲得更快的CT數據采集或在相同的時間跨度內獲得更高的CT數據精度。
五軸樣品操縱器 XT H 225系統有三個線性軸和兩個旋轉軸，可從任意角度觀察樣品。10kg操縱器可夾住大多數樣品重量，以*高精度進行操縱。操縱器通常用變速操縱桿進行控制。操縱器也可通過安裝在機架上的工業PC機采用編程的方式進行控制。
X射線平板探測器 可廣泛選擇各種平板，使其更好地匹配物體尺寸和X射線能量，這提供了樣品尺寸、視場和放大倍數要求的*佳選擇。
高放大倍數 當樣品向X射線源移動時，幾何放大倍數將連續增加，從大約1X(緊挨著增強器窗口)增大到160X(碰觸到X射線源)。
圖像處理 一般NDT應用通常需要一些標準功能，例如對比度加強，圖像集成和背景減除。對于更加重要的分析，需要使用一些特殊功能，例如自動芯片粘接空洞和引線彎曲計算、圖形顯示和色彩增強。
可靠性 連續泵浦全金屬X射線管消除了密封玻璃管故障成本高和更換時間長等問題。客戶維護成本低，通常只需更換燈絲，只需花費15分鐘的更換時間。
系統技術指標
5 µm 焦斑反射目標X射線源，25～225 kV，0～2000 µA(非連續)60或225W。10kg容量五軸完全可編程操縱器。*大掃描范圍250 x 330mm。*大幾何放大倍數：160x.*大系統放大倍數：400x。特征識別分辨率：*低1µm。外機柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H。全套系統控制和圖像處理軟件。
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