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2 觀察法
反復查看待修的板子,看各插頭、插座是否歪斜,電阻、電容引腳是否相碰,表面是否燒焦,芯片表面是否開裂,主板上的銅箔是否燒斷。還要查看是否有異物掉進主板的元器件之間。遇到有疑問的地方,可以借助萬用表量一下。觸摸一些芯片的表面,如果異常發(fā)燙,可換一塊芯片試試。
3 電阻、電壓測量法
為防止出現(xiàn)意外,在加電之前應測量一下主板上電源+5V與地(GND)之間的電阻值。*簡捷的方法是測芯片的電源引腳與地之間的電阻。未插入電源插頭時,該電阻一般應為300Ω,*低也不應小于100Ω。再測一下反向電阻值,略有差異,但不能相差過大。若正反向阻值很小或接近導通,就明說有短路發(fā)生,應檢查短的原因。
西門子直流調(diào)速器維修實例
故障現(xiàn)象為電源正常,LED無顯示
首先檢查CPU是否有正常工作?用示波器觀察,時鐘頻率正常且數(shù)據(jù)線有脈沖信號,證明CPU基本正常,而至LED數(shù)碼管掃描信號A點應為脈沖而現(xiàn)在卻為L電平。
西門子直流調(diào)速器LED顯示驅(qū)動電路
更換EPROM后,A點有脈沖LED顯示正常。了解待修板的功能,用在什么設備上;了解故障現(xiàn)象及起因。
二、外觀檢查:
對表面有污垢的電路板進行清潔,仔細觀察,電路板正反面有無熔蝕、斷線、短路,器件有無炸裂等明顯損壞現(xiàn)象。
三、分析:
分析故障可能出現(xiàn)的部位,制定維修方案。
四、測量:
1. 測量電路板的電源正極和地之間的靜電阻值,判斷電源是否短路;
2. 用萬用表測量一些分立元件,如二極管、三極管等;
3. 用測試儀進行器件功能測試,逐個標注測試結(jié)果:好、壞、可疑;
4. 用ASA方式進行對比測試,進一步判斷好壞;如有可編程器件或程序存儲器,將好板的內(nèi)容讀出并存儲,與故障板上的進行比較(在維修記錄單中記錄數(shù)據(jù)文件名稱);
5. 給電路板加電,測量電源電壓是否穩(wěn)定,并觸摸器件有無過熱;用示波器查看器件引腳的信號波形,如總線上的信號、CPU的時鐘信號等;
6. 各種儀器交替測量,綜合分析測試結(jié)果,以提高判斷的準確性;
7. 將標記為“壞”和“可疑”的器件拆下來進行離線測試。
五、更換新器件:
將所有拆下的器件換成新器件,多層板上的器件焊下后要加裝插座。
六、復查:
新器件安裝完畢后,上機復測,全面檢查。
七、試板:
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ACS800-04-0040-3+P901
ACS800-04-0050-3+P901
ACS800-04-0060-3+P901
ACS800-04-0075-3+P901
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以六相模塊為例。將負載側(cè)U、V、W相的導線拆除,使用二極管測試檔,紅表筆接P(集電極c1),黑表筆依次測U、V、W,萬用表顯示數(shù)值為*大;將表筆反過來,黑表筆接P,紅表筆測U、V、W,萬用表顯示數(shù)值為400左右。再將紅表筆接N(發(fā)射極e2),黑表筆測U、V、W,萬用表顯示數(shù)值為400左右;黑表筆接P,紅表筆測U、V、W,萬用表顯示數(shù)值為*大。各相之間的正反向特性應相同,若出現(xiàn)差別明說IGBT模塊性能變差,應予更換。IGBT模塊損壞時,只有擊穿短路情況出現(xiàn)。 紅、黑兩表筆分別測柵極G與發(fā)射極E之間的正反向特性, 萬用表兩次所測的數(shù)值都為*大,這時可判定IGBT模塊門極正常。如果有數(shù)值顯示,則門極性能變差,此模塊應更換。當正反向測試結(jié)果為零時,明說所檢測的一相門極已被擊穿短路。門極損壞時電路板保護門極的穩(wěn)壓管也將擊穿損壞.變頻器維修中心,技術精湛,質(zhì)量可靠,價格*低,信譽保證!客戶方工作人員檢查變頻器,通電后發(fā)現(xiàn)風機轉(zhuǎn)動緩慢,斷電后,檢查變頻器防護罩里面堵滿了很多棉絮,經(jīng)清掃完畢,開機后風機運行良好,運行數(shù)小時后沒有再發(fā)生此故障。
在我們的變頻器維修工作中,oh3也是一種比較常見的故障,主要原因有:負載過大,或者變頻器溫度過高。如果變頻器發(fā)生溫度過高報警,經(jīng)檢查溫度傳感器正常,則可能是干擾引起的,可以把故障屏蔽。另外還應檢查變頻器的冷卻風扇及散熱片通風情況,更換堵轉(zhuǎn)冷卻風扇,轉(zhuǎn)動慢風機進行修復,清掃變頻器,消除散熱片堵塞。同時,還應注意降低周圍環(huán)境溫度。1.功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號方案的不同的影響,是錯綜復雜的。就目前的在線測試技術,要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以,這項功能測試的結(jié)果,僅能供參考。 |
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