ICT測試治具
專業制作高精度ICT治具,適用于常用ICT設備TRI、Okano、Tescon、Jet、Takaya、Hioki、Hibex、Possehl、Concord、GW、System、SRC等。
我們采用INGUN和QA兩種探針供客戶選擇，并根據客戶實際的測試強度及頻率，合理建議客戶采用相應的結構和有針對性地選擇材料。
FCT功能測試治具
根據客戶的測試要求，圖紙及參考方案進行設計，利用手柄、氣缸、齒輪、軸承、滑軌、電機等,制作方便、經濟的各種手動功能測試治具、氣動功能測試治具和電動功能測試治具。
BGA微針測試
根據客戶的測試要求，圖紙及參考方案進行設計，利用高精度CNC,鉆孔精度0.01mm，鉆孔間距0.25mm，鉆孔孔徑0.2mm，采用精密測試探針（單頭或者雙頭）和防靜電材料制作制作BGA精密夾具。測試BGA開路、短路、虛韓、漏件、錯件、反向、IC空焊等自動化測試系統開發。
廣泛用于手機、GPS、U盤、顯卡、主板、通訊產品、MP3/MP4、等各類型電子產品。
FPC微針測試
根據客戶的測試要求，圖紙及參考方案進行設計，利用高精度CNC,鉆孔精度0.01mm，鉆孔間距0.25mm，鉆孔孔徑0.2mm，采用精密測試探針（單頭或者雙頭）和防靜電材料制作制作FPC精密夾具。測試FPC開路、短路、虛韓、漏件、錯件、反向、IC空焊等自動化測試系統開發。
廣泛用于手機、GPS、U盤、顯卡、主板、通訊產品、MP3/MP4、等各類型電子產品。 |
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