35DL超聲波測厚儀產品信息查閱可以訪問深圳市泰立儀器儀表有限公司網址:http://www.tl17.com/ArticleShow.asp?ArticleID=4458
35型、35DL型、35HP型和35DL-HP型技術規格
測量
模式1:
使用接觸式探頭,測量在激勵脈沖和*一個底面回波之間的時間間隔。
模式2:
使用延遲線式或水浸式探頭時,測量在激勵脈沖后的*一個界面回波和*一個底面回波之間的時間間隔。
模式3:
使用延遲線式或水浸式探頭,測量在激勵脈沖之后,位于*一個界面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔。
測量類型:厚度、聲速、渡越時間。
厚度測量范圍*:0.08毫米~635毫米(0.003英寸~25英寸)
*厚度范圍因型號、材料、探頭種類、表面條件和所選設置的不同而不同。
材料聲速范圍:0.5080毫米/微秒~18.699毫米/微秒
(0.02000英寸/微秒~0.7362英寸/微秒)
分辨率(通過鍵區可選):
低:
0.1 mm
(0.01 in.)
標準:
0.01 mm
(0.001 in.)
高:
0.001 mm
(0.0001 in.)
(35型和35DL型)
渡越時間測量范圍:0.0 µs~109.5 µs
渡越時間分辨率:固定在000.01 µs。
測量更新速率:4、8、16或*大頻率值(16~20 Hz,因應用和測量模式不同而不同)。
探頭頻率范圍:2.25 MHz~30 MHz(35型和35DL型)
0.5 MHz~5.0 MHz(35HP型和35DL-HP型) |
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