􀁺 太陽能電池組件的切片、擴散、焊接、層壓和裝框等工藝都可能
造成內部缺陷，如工藝污染、材料缺陷、隱裂、碎片、斷柵、缺
焊和低效率等。這些肉眼看不見的缺陷將會影響轉換效率、降低
可靠性、縮短使用壽命和降低品質質量。
􀁺 我們利用電致發光原理，自主研發的太陽能電池組件內部缺陷檢
測設備可以方便快捷地檢測出上述缺陷，具有靈敏度高、檢測速
度快、結果形象和缺陷自動識別等特點，是提升太陽能光伏組件
品質的關鍵設備。該設備可以讓用戶及時和全面掌握太陽能電池
組件內部問題，為改進生產工藝提供依據。
􀁺 用于層壓前組件和層壓件的隱形缺陷檢測可有效地檢測電池片存
在的問題，方便進行返修，以達到提高成品率和增加輸出功率的
目的；用于成品組件的隱裂檢測可以杜絕問題組件流入市場，也
可以通過返修來彌補成品率；用于研究中心，可使技術員對組件
隱裂及其它隱形缺陷進行有效分析。
設備核心技術指標
測試機柜：2200mm(長) ×1800mm(寬) ×900mm(高)
上下料輸送臺：2000mm(長) × 900mm(寬) × 900mm(高)
設備大小
設備放置環境5℃～40℃(溫度)；5～85﹪(濕度)
工作環境15℃～40℃(溫度)；10～75﹪(濕度)
電流電壓0～30A；0～100V
自動化度自動傳輸組件，自動上電，自動掃描條形碼/產品序列號，自動檢測；
設備高度900mm
檢測組件大小*大尺寸:2000mm×1000mm（可根據客戶特殊要求定制）
檢測組件類型太陽能電池組件/電池串/電池片（單晶和多晶）
檢測缺陷類型工藝污染、材料缺陷、隱裂、碎片、斷柵、缺焊、低效率等。
管理軟件自主開發中英文識別與管理軟件，圖像自動保存、統計、查詢與打印
圖像表面噪點有微弱噪點無
探測器類型冷卻型(常溫下30℃) 冷卻型(-50℃)
芯片日本索尼美國柯達
探測器生產商國內OEM 德國定制
測試周期15～25秒12～20秒
清晰成像時間5～8秒3～5秒
1360×1024 2048×1360 3032×2016 2048×2048 3326×2504
140萬像素雙140萬像素600萬像素400萬像素830萬像素
分辨率 |
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