BGA324測(cè)試治具(英飛凌芯片測(cè)試夾具) ,適用于BGA芯片的功能測(cè)試好壞的驗(yàn)證和判別。
芯片應(yīng)用領(lǐng)域: GSM手機(jī)主控芯片
產(chǎn)品應(yīng)用范圍:PCBA維修、來料檢驗(yàn)(IPQC)、芯片篩選、工程項(xiàng)目驗(yàn)證
BGA324測(cè)試治具特點(diǎn):
1.座頭采用手動(dòng)旋轉(zhuǎn)翻蓋結(jié)構(gòu),操作靈敏。
2.座頭頂蓋的芯片壓塊采用人性化結(jié)構(gòu),下壓力度平穩(wěn),保證IC的壓力均勻,不偏移。
3.探針的爪頭凸起能有效刺破錫球的氧化層,接觸性能穩(wěn)定, 保護(hù)錫球外形。
4.理性化的定位槽、導(dǎo)向孔可以確定IC定位精確。
5.特殊IC載板結(jié)構(gòu),保護(hù)探針不受外力損壞。
6.探針:進(jìn)口探針,鈹銅鍍硬金、銠。圓融達(dá)
7.維修成本低:方便更換探針,成本低效率高。
8.高強(qiáng)度耐高溫絕緣材料:330度。
9.成熟加工精度范圍:跳距pitch=0.4mm。
10.交貨周期:最快三天內(nèi)交貨。 |
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