Dage XD7500VR X光檢查機
主要檢測：芯片器件內(nèi)部焊接，短路，氣孔，氣泡，裂紋，及異物檢查。
產(chǎn)品參數(shù)：
規(guī)格:XD7500VR
尺寸(長x寬x高):1450 x 1700 x 1970mm
重量:1900 KG
*小聚集光點:0.95micron
Ｘ光發(fā)射管:開放管
X 射線管電壓范圍:30-160 KV
*大檢測面積:458MM x 407MM
*大板尺寸: 508MM x 444MM
*大樣本重量:5 KG
電源:單相 200-230V/16A
斜角視圖:0-70°(360°全方位檢測)
系統(tǒng)（幾何）放大倍率:1200x
產(chǎn)品規(guī)格：
*小分辨率：950納米(0.95 微米)；
影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；
圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；
*大檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
*大樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
系統(tǒng)*大放大倍數(shù): 至5650X；
顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)； |
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