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X射線鍍層測厚儀

X射線鍍層測厚儀_深圳環(huán)宇科學(xué)儀器有限公司_X射線鍍層測厚儀

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公　司：深圳環(huán)宇科學(xué)儀器有限公司

發(fā)布時間：2011年12月04日

有效期：2012年06月01日

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陳一帆先生 (總監(jiān))

聯(lián)系時，請說是在企業(yè)錄看到的，謝謝！

電　　話： 0755-61679106 傳　　真：手　　機(jī)： 13632568748 地　　址：中國廣東深圳市南山區(qū)南頭安樂工業(yè)園12棟郵　　編： 518052
公司主頁：	http://xrf000.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細(xì)說明

    TX500型X射線鍍層測厚儀利用X射線快速、精確、無損的測試金屬鍍層厚度,可以測試多層鍍層、合金鍍層等復(fù)雜模式.是一款高端的X射線鍍層測厚儀，為電鍍、PCB、汽車等行業(yè)提供了鍍層測厚的利器。

應(yīng)用范圍
電鍍、真空鍍、化學(xué)鍍、納米噴鍍
電子、電器、五金、線材、汽車、珠寶首飾等行業(yè)的金屬鍍層、無機(jī)鍍膜X射線鍍層測厚儀

性能指標(biāo)
可測元素：硫(S)－鈾(U)
可測鍍層： *多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機(jī)薄膜
鍍層種類：單金屬、合金、無機(jī)薄膜
精度：  *高可達(dá)0.005um
厚度相對誤差：單層5%，多層5～10%
厚度范圍：輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
   中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
   重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um

含量分析范圍： 0.0002～100%
含量檢出限： 2ppm
含量相對誤差： 5～10%
*小測量直徑： 0.1mm
分析時間： 30～200S

技術(shù)參數(shù)
探測器：進(jìn)口半導(dǎo)體探測器，分辨率達(dá)139eV
X光管：  鎢（W）靶，*大電壓50kV，*大電流1.5mA
   使用壽命長達(dá)5萬小時
高壓電源：精密X射線專用電源，*高輸出電壓50kV
   穩(wěn)定度每8小時小于0.05%
濾光片： 6組濾光片電動切換，有效降低背景干擾
準(zhǔn)直器：采用*新的高科技X射線聚焦晶體，*小分析面積至0.1*0.1mm^2
對焦系統(tǒng)：激光對焦
樣品臺：高精度步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動，XY軸二維移動，步長精確至0.05mm
X射線防護(hù)：三重X射線防護(hù)（樣品腔、機(jī)殼、程序控制），
   低于GB16355-1996防輻射標(biāo)準(zhǔn)
輸入電壓： AC 220V/50HZ
功耗：  300W
樣品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量：  45Kg

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聯(lián)系人：陳一帆電話：0755-61679106

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