一、半導體檢測顯微鏡儀器的主要用途和特點
DMM-660系列研究型半導體檢測顯微鏡（大平臺金相顯微鏡）配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。
DMM-660C研究型半導體檢測顯微鏡（大平臺三目正置金相顯微鏡）是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術完美地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計算機上很方便地適時觀察金相圖像，并以隨時捕捉下來,從而對金相圖譜進行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。http://www.shkon.com.cn/produce/metalmicro.htm
二、半導體檢測顯微鏡儀器的主要技術指標
組件及規(guī)格
目鏡 大視野 WF10X(Φ18mm)
WF20X(Φ8.5mm)
平場分劃 10X(0.10mm/格值)
物鏡 平場消色差
（無蓋玻片） 放大倍數(shù)/數(shù)值孔徑 工作距離
PL5X/0.12 18.3
PLL10X/0.25 8.9
PLL20X/0.40 8.7
PLL40X/0.60（彈簧） 3.7
PL50X/0.70（彈簧） 2.02
PL80X/0.80（彈簧） 0.96
目鏡筒 三目鏡 轉軸式，傾斜30度，包括檢偏振片
儀器主體 粗調、微調手輪，微調格值為0.002MM（底座及支架）
偏光裝置 可插入式起偏振片,垂直照明裝置,能進行一般金相分析、微粒分析測試，還能對不透明物體進行分析、觀察。
載物臺 尺寸：274 X274mm 有快速移動裝置，移動范圍尺寸：203 X 203mm
調焦機構 同軸粗微動調焦機構, 調焦范圍15mm 微動格值2μm
照明系統(tǒng) 落射照明 6V 20W ，鹵素燈，亮度可調帶起偏振片落射照明 6V 20W ，鹵素燈，亮度可調
濾片組 藍、黃、綠、磨砂
轉換器 滾珠內定位內彎,五孔轉換 |
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