原子力顯微鏡AFM Multimode 掃描探針顯微鏡
Multimode型系統是世界上分辨率*高、使用*廣泛的商用掃描探針顯微鏡。界面友好、功能強大的軟件及精簡的硬件設計，使得Multimode可以方便地獲取從微米尺度到原子尺度的圖像數據，具有極高的工作效率、極強的靈活性和可靠性。
Multimode型掃描探針顯微鏡可提供多種可選擇的掃描范圍，滿足各種實驗需要的精度；它擁有十余種操作模式，能夠實現現在所有已知的SPM技術。
Multimode所采用的NanoScope IIId控制器，集先進的模擬電路及數字電路于一身，具有功能強大的實時軟件系統及多任務的控制能力。在每個軸向上，均有三個獨立的16位數模轉換通路提供信號給壓電陶瓷管，因此壓電陶瓷管在掃描的時候，可以非常自如地在百微米范圍到幾個納米范圍之間縮放，而不必要重新掃描。同時，Veeco的專利技術Quadrex，進一步增強了信號相位檢出能力，因此可以使AFM獲得更加的相位信號
Multimode的加熱/制冷附件可以對樣品進行加熱和冷卻，適合于研究生物、聚合物以及其他材料樣品在不同溫度下的特性。該加熱/制冷附件可以控制樣品溫度在-35oC到250oC范圍，并可以在水、溶液或緩沖體系中測量樣品。Multimode的環境控制艙可以根據實際需要控制常壓下的氣體組分，因此使AFM可以測量不同氣氛分壓下的樣品性能。 |
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