一般來說,尤其是大功率LED在初始點亮階段光度都會有一定的衰減,LED封裝廠為了提供給應用端廠商發光穩定的產品,或者是應用端廠商家為了獲得穩定的LED材料,通常都會做一些老化試驗。當然LED老化試驗有多種方式,如常規性老化、過電流沖擊破壞性試驗等等。
LED廠商通常會用以下幾種方式進行常規性老化:
1、多顆管串聯老化:恒壓老化電路和恒流老化電路
2、多顆管并聯老化
3、多顆管串并聯老化:串并恒壓老化和串并恒流老化
4、單管恒流老化
比較以上4種老化方式, 1、3種方式中只要有一顆LED出現質量故障,比如LED短路或者斷路都會影響別的LED的工作電流參數。第2種方式優于1、3種,任一顆LED特性變化不會影響到別的LED老化參數,但事實上靠電阻限流的方式是不可靠的,電阻本身阻值漂移和LED自身電壓特性變化都會嚴重影響LED參數。顯然,第4種單管恒流老化抓住了LED電流工作特性,是最科學的LED老化方式。
老化在試驗過程中應該是一個非常重要的過程,但在很多企業往往會被忽視,不能進行正確有效的老化,后面對LED本身所進行的包括亮度、波長等所有參數的分析都將不確定。過電流沖擊性老化也是廠家經常使用的一種老化手段,通常使用頻率可調、電流可調并且占空比可調的恒流源進行此類老化,以期待短時間內判斷LED的質量及預期壽命。
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