Agilent4287A射頻LCR測試儀/HP4287A阻抗分析儀·1MHz～3GHz，以100KHz分檔·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ·在低測度信號電平上具有優良的測量重復性·基本精度為1%·高速測量9ms
Agilent4287A射頻LCR測試儀/HP4287A阻抗分析儀
產品狀態:已停產
Agilent 4287A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供***、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產
率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行***測量。
生產***，質量可靠
4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)處優良的測試重復性還可以***提高生
產率，因為所需的取平均過程非常短。
系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速
GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試
質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7
適配器聯用，從而無需制作***夾具。 |
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