AE8600是一種用于光譜分析的分析儀，工作于600至1700nm波長范圍內，分辨率可達20pm，測量功率+20dBm，功率靈敏度低至-90dBm。
AE8600豐富的專業APP應用，可用于半導體激光器（DFB、FP）光譜特征測量、WDM系統測試、EDFA系統參數測試、透過率和漂移測試。
AE8600優越的穩定性和可靠性，極快速的光譜掃描速度，開放的數據輸出，可幫助您完美應對來自光譜測試的各種挑戰。
特點：
● 光譜范圍 600nm-1700nm，適用于單模和多模光纖輸入；
● 7 種波長分辨率設置 20pm~2nm，使用戶可以根據測試需求選擇值；
● 低至 -90dBm 的靈敏度設置；
● 73dB 超大動態范圍，能夠有效分離相近的光譜信號，執行精確測量；
● ±0.02nm 高波長精度，內置校準功能和波長參考源；
● 高雜散光抑制率，單色鏡設計可以提供出色的雜散光抑制能力；
● WDM、光源、EDFA 等豐富的功能選擇，滿足從現場到工廠的各種應用；
● 無需預熱，開機即可測量；
● 10.1 寸超大觸屏操作，更好的客戶體驗；
● 齊全的用戶數據接口，支持以太網、USB、SD 等；
● 根據客戶需求建設自動化檢測與測試系統。 |
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