EOS/ESD造成的客退情形不曾間斷，IC過電壓承受能力較低，產品就有損壞風險。
對成品廠商而言，除了要求IC供貨商測試到所要求的ESD防護等級，對于所選用的IC，其承受EOS的能力也更加關注。
GRGT技術服務
廣電計量（GRGT）能協助您進行測試，提供Test to Fail的驗證與失效模式報告。藉此了解芯片組件脆弱點與靜電承受度，作為您后續系統設計、芯片電路設計調整、甚至后續RMA失效分析的依據。
1.人體放電模式(Human Body Mode)測試；
2.機器放電模式(Machine Mode)測試；
3.組件充/放電模式(Charged Device Mode)測試；
4.制具式組件充/放電模式(Socket-Charge Device Mode)測試；
5.閂鎖效應(Latch-up)測試；
6.靜電放電閂鎖測式(Transient-Induced Latch up)；
7.系統級靜電放電模式(System ESD Test–ESD GUN TEST)；
8.測試ESD I-V Curve量測；
9.過度電性應力EOS(Electrical Overstress)測試；
GRGT服務優勢
l豐富的ESD測試經驗：提供有效的測試方案，讓您能輕易找出產品問題點.
l快速交期：三班制24小時運作.
l測試結果準確度：靜電測試設備搭配自主建立之設備維修保養機制定期定檢保障設備輸出，將可協助客戶取得高精準度之測試結果，降低設備不正常輸出造成的測試結果差異。
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