LS225+N1500渦流測厚儀是一款便攜式分體式的渦流測厚儀，由主機LS225和非鐵基探頭N1500組成。儀器采用渦流感應原理，具有超高的測量精度和重復性，配上探針式的測頭設計，特別適用于測量超薄涂層及氧化膜的各種小尺寸工件、異型材料。LS225+N1500渦流測厚儀可用于生產檢驗、施工驗收以及銷售展覽現場對非磁性金屬基材上的非導電涂層厚度進行快速無損的測量，可應用于航空工業、建材、機械、化工、輕工和儀表等行業。
LS225+N1500渦流測厚儀產品參數如下：
測量原理 渦流感應
基體材料 非鐵磁性金屬
測量范圍 0.0-1500μm
分辨率 0.1μm:（0μm - 99.9μm）
1μm:（100μm - 999μm）
0.01mm:（1.00mm – 1.50mm）
重復性 ≤±（0.8%讀數+0.1μm）手壓測試機架測試
測量精度 ±（2%讀數+0.3μm）五點校準
單位 μm/mil
測量間隔 0.8s
最小測量區域 Ø=7mm
最小曲率半徑 凸面1.5mm，凹面10mm
最小基體厚度 0.05mm
用戶校準 支持零點校準，1點到5點校準
探頭尺寸 長110mm×直徑15mm（不包括連線）
探頭重量（含電池） 81g
LS225+N1500渦流測厚儀產品特點：
1.支持調零和多點校準確保數據更加，配備專門的調零板和標準片。
2.具備數據統計功能，自動統計最近9組數據的值，值，平均值和方差值。
3.具有超寬量程0-1500μm，測量單位μm和mil可切換。
4.選購專用的手壓測試機架能消除人為因素造成的誤差，數據重復性可達0.1μm。
5.探針式測頭設計，特別適合于測量小尺寸和異型材料上的涂層及履層厚度。
6.采用高硬度測頭且增加了耐久性設計，可確保儀器具有超長使用壽命。
7.具備無操作自動關機功能（可設置1-9分鐘），中英文界面可自由切換。 |
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