廣電計(jì)量可以做AEC-Q-100認(rèn)證報(bào)告,AEC-Q-101認(rèn)證報(bào)告,AEC-Q-102認(rèn)證報(bào)告, AEC-Q-104認(rèn)證報(bào)告，AEC-Q-200認(rèn)證報(bào)告，元器件篩選，破壞性物理分析，NVH測(cè)試，AQG324認(rèn)證，LV324認(rèn)證
AEC 是“Automotive Electronics Council：汽車電子協(xié)會(huì)”的簡(jiǎn)稱。
克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子委員會(huì)(AEC)，是主要汽車制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體，AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。[AEC-Q100]是針對(duì)于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理,針對(duì)于分立器件的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q101]，針對(duì)于LED的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q102]，針對(duì)于被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200]
隨著技術(shù)的進(jìn)步，以SiC半導(dǎo)體材料的功率器件開始由實(shí)驗(yàn)室階段走向商業(yè)應(yīng)用，其可靠性也越來(lái)越受關(guān)注。AEC-Q101對(duì)這些器件給予了很好的定義，對(duì)各類半導(dǎo)體分立器件的車用可靠性要求進(jìn)行了梳理。以IGBT、MOS等功率器件模塊為例，額外增加了Unclamped inductive switching、Dielectric integrity、Short circuit reliability characterization等測(cè)試。技術(shù)的革新帶來(lái)了可靠性的新驗(yàn)證，廣電計(jì)量以AEC-Q101認(rèn)證試驗(yàn)為基礎(chǔ)，布局第三代半導(dǎo)體器件的可靠性業(yè)務(wù)領(lǐng)域，助力器件國(guó)產(chǎn)化、高新化發(fā)展。
服務(wù)內(nèi)容：
廣電計(jì)量失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q測(cè)試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。
產(chǎn)品范圍：
二、三極管、晶體管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、閘流管等半導(dǎo)體分立器件
加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試（偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存、鹽霧測(cè)試、濕度抵抗、機(jī)械沖擊、變頻振動(dòng)、恒加速應(yīng)力、蓋板扭力測(cè)試、芯片切斷、跌落測(cè)試）
★加速壽命模擬測(cè)試（高溫工作壽命、早期失效率、熱沖擊、旋轉(zhuǎn)壽命、壽命終止模擬驗(yàn)證）
★封裝組合整裝測(cè)試（邦線切應(yīng)力/拉力、錫球切應(yīng)力、可焊性、引線完整性、剪切強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、抗焊接熱、端子強(qiáng)度）
★芯片晶圓可靠度測(cè)試（電遷移、介質(zhì)擊穿、熱載流子注入、負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性、應(yīng)力遷移）
★電氣特性確認(rèn)測(cè)試（人體模式/機(jī)器模式靜電放電、ESD、帶電器件模式靜電放電、閂鎖效應(yīng)、電分配、故障分級(jí)、電熱效應(yīng)引起的柵漏、電磁兼容、短路特性描述、軟錯(cuò)誤率、瞬時(shí)電傳導(dǎo)、短路失效電流持久性）
★瑕疵篩選監(jiān)控測(cè)試（ |
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