鍍層厚度測量/鍍層元素種類、含量分析
本儀器專門針對鍍層厚度測量、鍍層元素種類及含量的快速無損分析的需求，特別設計該款儀器，其特點可以概括為以下幾點：
1.上照式 2.測試組件可升降 3.高精度移動平
4.小孔準直器 5.高分辨率探測器 6.可視化操作
7.自動定位高度 8.自動尋找光斑 9.鼠標定位測試點
10.良好的射線屏蔽 11.超大樣品腔 12.測試口安全防護
X熒光鍍層測厚儀 Thick800A特點
1.最薄可測試0.005μm；
2.準直孔達到0.1mm以內(nèi)，測試光斑0.2mm以內(nèi)；
3.電子高度感應器；
4.微小光斑的自制銅光管；
5.高精度樣品移動平臺。
性能特點：
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；
采用高度定位激光，可自動定位測試高度；
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準；
良好的射線屏蔽作用；
測試口高度敏感性傳感器保護。
應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定；
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；
銀行，首飾銷售和檢測機構；
電鍍行業(yè)。
標準配置：
開放式樣品腔；
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動；
雙激光定位裝置；
鉛玻璃屏蔽罩；
Si-Pin探測器；
信號檢測電子電路；
高低壓電源；
X光管；
高度傳感器；
保護傳感器；
計算機及噴墨打印機。
技術指標：
型號：Thick 800A；
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）；
一次可同時分析最多24個元素，五層鍍層；
分析檢出限可達2ppm，最薄可測試0.005μm；
分析含量一般為2ppm到99.9% ；
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）；
任意多個可選擇的分析和識別模型；
相互獨立的基體效應校正模型；
多變量非線性回收程序；
多次測量重復性可達0.1%；
長期工作穩(wěn)定性可達0.1%；
度適應范圍為15℃至30℃；
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源；
儀器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545（H） mm；
重量：90 kg。 |
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