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儀器名稱
型號
場發射透射電鏡（TEM）
Tecnai G2 F30
主要技術參數
1、加速電壓300kV
2、信息分辨率0.14nm
3、點分辨率0.20nm
4、線分辨率0.1nm
5、樣品比較大傾角+/- 40o
6、放大倍數：60-1000000
7、電子槍：Schottly場發射電子槍
應用范圍
提供300kV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰性的樣品。可以在原子尺度的分辨率下對材料進行高質量、高穩定性的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析，及各種材料微區化學成分的定性和定量檢測。廣泛應用于材料科學、生物醫學、地質礦產、化學、環境、光電子等領域。
材料要求
制備可供透射電鏡觀察的樣品（固體樣品需要有薄區）
儀器特點
1、 高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析
2、 可借助完全嵌入式STEM、CC相機、EDX探測器、EELS譜儀和能量過濾器實現同步數據記錄
3、 靈活的高電壓；300kV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰性的樣品
4、 低至亞納米尺度的健全常規分析
5、 超潔凈真空
可進行磁性和非磁性樣品的檢測：
非磁性樣品價格：
高倍率形貌400元/樣品；高倍率衍射200元/樣品；mapping600元/樣品
磁性樣品價格：
高倍率形貌500元/樣品；高倍率衍射300元/樣品；mapping700元/樣品
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