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儀器名稱掃描電鏡(SEM)
型號:Zeiss Ultra 55
主要技術參數:
1、分辨率1.0 nm at 15 kV;1.7 nm at 1 kV;4.0 nm at 0.1 kV
2、加速電壓0.1-30kV
3、放大倍數12-900000
4、探測電流4pA-20nA
5、電子槍:熱場發射
應用范圍:用于觀察樣品的表面形態、斷口形貌、磨損表面形貌、納米結構材料形態、生物樣品形貌等;結構分析、成分分析。
***用于材料學、機械學、微電子學、生物學、醫學等領域。
材料要求:金屬、薄膜、半導體、陶瓷、復合、高分子、生物材料等均可,具有一定的導電性,或噴碳/金處理。
聚儀網簡介:
聚儀網是科研檢測行業的一站式服務平臺,為高校,科研院所和企業提供便捷***的科研檢測服務,主要涉及能源、環境、化工、材料、輕工食品、生命科學、石化等眾多科研領域。
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聚儀網是由上海交通大學博士團隊和科研檢測領域高管聯合創辦,團隊成員來自美國加州大學伯克利分校、新加坡國立大學、中國科學院、上海交通大學、清華大學、浙江大學、南京大學等海內外名校,成員均擁有博士或碩士學位。
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