西安廠家直供半導體分立器件測試系統
EN-2005B功率器件綜合測試系統
系統概述
西安易恩電氣 EN-2005B功率器件綜合測試系統，設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品質范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。
面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果。前面板的小鍵盤方便了系統操作。通過小鍵盤，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。
設備用途
測試分析、器件選型 、篩選檢驗 、生產線自動批量測試等
技術指標
主極電壓: 10mV-2000V
主極電流： 100nA-50A
擴展電流： 100A、500A、1000A、1300A
電壓分辨率： 1mV
電流分辨率： 1nA
測試精度： 0.2%+2LSB
測試速度： 0.5mS/參數
系統功耗： <150w
質 量： 35KG
尺 寸： 450x570x280mm
通信接口： RS232 USB
工作溫度： 25-40°C
測試范圍
測試范圍 / 測試參數
序號 測試器件 測試參數
01 二極管
DIODE IR；BVR ；VF
02 晶體管
（NPN型/PNP型） ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；
BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF
03 J型場效應管
J-FET IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；
IDSS；GFS；VGSOFF
04 MOS場效應管 
MOS-FET IDSS；IDSV；IGSSF；  IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；
VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS
05 雙向可控硅
TRIAC VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-
06 可控硅
SCR IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；
IGT；VGT；IL；IH
07 絕緣柵雙極大功率晶體管
IGBT ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；
VGEON；VF；GFS
08 硅觸發可控硅
STS IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；
VPK-；VGSW+；VGSW-
09 達林頓陣列
DARLINTON ICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；
BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；
VCESAT； VBESAT；VBE |
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