高加速壽命試驗(yàn)（簡稱HALT試驗(yàn)）是一種對電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段，通過試驗(yàn)，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進(jìn)和驗(yàn)證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅(jiān)固性及可靠性。施加于試品的應(yīng)力，包括振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。
高加速壽命HALT試驗(yàn)以連續(xù)的測試、失效分析、缺陷改進(jìn)及驗(yàn)證構(gòu)成了整個(gè)程序，而且可能是個(gè)閉環(huán)循環(huán)過程。往往一個(gè)測試計(jì)劃，需要重復(fù)進(jìn)行幾次，除非一次性能經(jīng)受加速應(yīng)力試驗(yàn)。其關(guān)鍵在于分析失效的根本原因。
HALT試驗(yàn)的主要功能如下：
1．利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來，并加以改善；
2. 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式；
3. 作為高應(yīng)力篩選及制定品質(zhì)核查規(guī)格的參考；
4. 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵；
5. 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本；
6. 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)并縮短設(shè)計(jì)制造周期。
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