X-ray電鍍層厚度檢測儀產品技術參數介紹，thick800aX-ray電鍍層厚度檢測儀具有良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。能夠滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加精準。天瑞儀器X-ray鍍層測厚儀Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗，是一款上招式設計的，自帶三維移動平臺，XYZ可定點，在鍍層檢測中可謂大展身手。
技術指標
SDD半導體探測器：探測器輸入電壓：±12V，+5V，探頭窗口面積：25mm-2---，探頭窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探頭內制冷溫度：<-40℃。
X射線光管：管壓：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：鈹窗，制冷方式：風冷，工作溫度：≤75℃。
高壓發生器：輸入電壓：24V，輸入*大電流：5A，管壓：0-50kV，管流：0-2mA，燈絲*大電壓：5V
，燈絲*大電流：3.5A
MCA多道分析器：輸入電壓：±12V，+5V，采樣頻率：100 KHZ，脈沖幅度：0-7.6V，A/D位數：12位
分析道數：2048道
準直器系統：準直器：Ø0.1 mm(可根據要求選配)，濾光片：Mo(可根據要求選配)
高清晰攝像頭：傳感器類型：CCD（彩色），接口：USB2.0，傳感器廠商：索尼，快門類型：面陣，光學尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感應度：0.58V（索尼標準）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
自動對焦系統：通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器
儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
樣品測試譜圖，高清，譜線明顯。 |
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