廣電計(jì)量可以做AEC-Q-100認(rèn)證報(bào)告,AEC-Q-101認(rèn)證報(bào)告,AEC-Q-102認(rèn)證報(bào)告, AEC-Q-104認(rèn)證報(bào)告，AEC-Q-200認(rèn)證報(bào)告，元器件篩選，破壞性物理分析，NVH測(cè)試，AQG324認(rèn)證，LV324認(rèn)證。
MTBF，即平均故障間隔時(shí)間，英文全稱是“Mean Time Between Failure”。是衡量一個(gè)產(chǎn)品（尤其是電器產(chǎn)品）的可靠性指標(biāo)。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來(lái)說(shuō)，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間，也稱為平均故障間隔。以下MTBF計(jì)算規(guī)范，供參考。
產(chǎn)品壽命可靠性試驗(yàn)MTBF計(jì)算規(guī)范
一、目的：
明確元器件及產(chǎn)品在進(jìn)行可靠性壽命試驗(yàn)時(shí)選用標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)條件、測(cè)試方法
二、范圍：
適用于公司內(nèi)所有的元器件在進(jìn)行樣品承認(rèn)、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)成熟度/產(chǎn)品成熟度（DMT/PMT）驗(yàn)證期間的可靠性測(cè)試及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估、常規(guī)性O(shè)RT例行試驗(yàn)
三、職責(zé)：
DQA部門為本文件之權(quán)責(zé)單位，責(zé)權(quán)主管負(fù)責(zé)本檔之管制，協(xié)同開(kāi)發(fā)、實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行試驗(yàn)，并確保供應(yīng)商提交的元器件、開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)產(chǎn)品滿足本文件之條件并提供相關(guān)的報(bào)告。
四、內(nèi)容：
MTBF測(cè)試原理
1.加速壽命試驗(yàn)(Accelerated Life Testing)
1.1執(zhí)行壽命試驗(yàn)的目的在于評(píng)估產(chǎn)品在既定環(huán)境下之使用壽命.
1.2 常規(guī)試驗(yàn)耗時(shí)較長(zhǎng),且需投入大量的金錢,而產(chǎn)品可靠性資訊又不能及時(shí)獲得并加以改善.
1.3 可在實(shí)驗(yàn)室時(shí)以加速壽命試驗(yàn)的方法,在可接受的試驗(yàn)時(shí)間里評(píng)估產(chǎn)品的使用壽命.
1.4 是在物理與時(shí)間基礎(chǔ)上,加速產(chǎn)品的劣化肇因,以較短的時(shí)間試驗(yàn)來(lái)推定產(chǎn)品在正常使用狀態(tài)的壽命或失效率.但基本條件是不能破壞原有設(shè)計(jì)特性.
1.5 一般情況下, 加速壽命試驗(yàn)考慮的三個(gè)要素是環(huán)境應(yīng)力,試驗(yàn)樣本數(shù)和試驗(yàn)時(shí)間.
1.6 一般電子和工控業(yè)的零件可靠性模式及加速模式幾乎都可以從美軍規(guī)范或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)查得,也可自行試驗(yàn)分析,獲得其數(shù)學(xué)經(jīng)驗(yàn)公式.
1.7 如果溫度是產(chǎn)品唯一的加速因素,則可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最為常用.
1.8 引進(jìn)溫度以外的應(yīng)力,如濕度,電壓,機(jī)械應(yīng)力等,則為愛(ài)玲模型(Eyring Model),此種模式適用的產(chǎn)品包括電燈,液晶顯示元件,電容器等.
1.9反乘冪法則(Inverse Power Law)適用于金屬和非金屬材料,如軸承和電子裝備等.
1.10 復(fù)合模式(Combination Model)適用于同時(shí)考慮溫度與電壓做為環(huán)境應(yīng)力的電 |
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